发明专利已授权

用于测量磁介质材料介电常数和磁导率的微波传感器

Name: 用于测量磁介质材料介电常数和磁导率的微波传感器
Brand: 杭州电子科技大学
SKU: 2019103891439
Availability: InStock

📄 申请号：CN201910389143.9 📄 发布日：2026/08/24

著录项目信息

申请日

2019-05-10

公开号

CN110108949B

公开日

2021-05-07

申请人

杭州电子科技大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01R27_26

IPC 分类号

G01R27_26 , G01R33_12 ,

技术画像

所属领域

其他分类其他

应用场景

材料电磁参数测试, 微波器件表征, 电子材料检测, 无损检测, 科研实验

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摘要

本发明公开用于测量磁介质材料介电常数和磁导率的微波传感器。包括底层被刻蚀了一对CSRR槽环的金属薄片，中间层的PCB板，顶层微带线；整个微带线结构两端伸出馈电长脚用于连接SMA连接头，中间一段微带线带有两个金属补丁，两个金属补丁分别耦合底层的两个CSRR槽环；槽环具有两个敏感区域，其中外槽环开口槽沟之间的区域为磁场强度最大区域，该区域放置待测样品用于测量样品磁导率；内外槽环内折直角相接的槽沟之间的区域为电场强度最大区域，该区域放置待测样品用于测量样品介电常数。该传感器具备同时测量磁介质材料介电常数和磁导率的功能，不仅具有高灵敏度和高精度的优良性能，而且结构简单、实用性很强。

常见问题

这项专利是否已经下证？

是的，该专利已下证，法律状态为“已下证”，公开号： CN110108949B

购买这项专利需要经过哪些流程？

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该专利的转让价格是多少？

当前标价为议价，可委托平台代购或预约谈判。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

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当前第 / 件

用于同步测量磁介质材料介电常数和磁导率的微波传感器

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议价

不含过户费

📋 交易方式： 委托待转让 📌 交易状态：在售 👁️ 浏览次数：13 ❤️ 收藏人数：93 📋 项目申报： 未申报

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🏢 淄博智来知识产权服务有限公司

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