发明专利 已授权

一种结构光三维扫描可达性分析方法及分析系统

📄 申请号:CN201810344169.7 📄 发布日:2026/08/11

著录项目信息

申请日
2018-04-17
公开号
CN108955520A
公开日
2018-12-07
申请人
武汉工程大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

工业自动化检测, 逆向工程, 质量控制, 机器人三维扫描, 智能制造

摘要

本发明涉及一种结构光三维扫描可达性分析方法,包括:根据结构光三维扫描设备的几何测量模型,构建扫描工作空间。对待测工件参考模型的曲面进行离散,得到待测工件参考模型的位于曲面上的采样点。基于待测工件参考模型,构建每个采样点的扫描可视锥空间。根据扫描工作空间、扫描可视锥空间和预设的结构光扫描可达性条件,判断每个采样点在结构光三维扫描设备扫描下的扫描可达性。将扫描可达的采样点和扫描不可达的采样点分别以不同的颜色在曲面上显示。本发明通过对扫描设备的几何参数和待测工件参考模型分析,结合结构光扫描可达性条件对被测物体进行扫描可达性评判,可达性分析结果可为扫描操作提供参考,以便于操作人员调整、优化扫描策略。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

20200915
✅ 授权
20190101
?? 实质审查的生效 :

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议价
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