发明专利已授权

高反光物体三维面型测量方法和测量设备

📄 申请号：CN202010876920.5 📄 发布日：2026/07/27

著录项目信息

申请日

2020-08-27

公开号

CN112097670B

公开日

2022-02-11

申请人

江苏科技大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01B11_22

IPC 分类号

G01B11_22

技术画像

所属领域

光学测量光学测量三维成像机器视觉

应用场景

工业检测, 质量控制, 逆向工程, 汽车制造, 精密测量

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摘要

本发明公开了一种高反光物体三维面型测量方法和测量设备，其中测量方法包括：1、生成两组周期不同的理想正弦光栅，每组中包括两幅周期相同、初始相位差为的理想正弦光栅；2、构建可以移动的单显示屏单相机测量系统，设置显示屏与参考平面平行且距离为d；3、利用理想正弦光栅计算被测物体表面的绝对相位；4、对测量系统进行第一次标定，计算参考平面的绝对相位；5、平移显示屏，使显示屏与参考平面仍平行且距离为d+Δd；重复步骤3，计算被测物体表面的绝对相位；6、对测量系统进行第二次标定，计算参考平面的绝对相位；7、得到待测物体表面到参考平面的深度值。该方法能够获取高精度的绝对相位，从而能够得到高反光物体三维面型的精确深度信息。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

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当前第 / 件

一种摊煎饼装置

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¥10000.0 元

不含过户费

📋 交易方式： 委托待转让 📌 交易状态：在售 👁️ 浏览次数：13 ❤️ 收藏人数：93 📋 项目申报： 未申报

资金托管权属尽调包过户

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