发明专利 已授权

基于阿秒条纹谱的电子轨道半径测量方法、系统和介质

📄 申请号:CN201910350379.1 📄 发布日:2025/11/16

著录项目信息

申请日
2019-04-28
公开号
CN110095805B
公开日
2022-07-08
申请人
武汉工程大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

基础物理研究, 原子分子物理实验, 材料电子结构分析, 高精度测量仪器

摘要

本发明涉及一种基于阿秒条纹谱的电子轨道半径测量方法、系统和介质,方法包括获取多个红外电场分别和单个阿秒脉冲激光共同作用在工作气体上产生的阿秒条纹谱,以及获取在多个电子初始位置下,多个红外电场分别和单个阿秒脉冲激光共同作用在工作气体上产生的多个经典条纹轨迹;根据阿秒条纹谱获取工作气体的光电离时间延迟,并根据多个经典条纹轨迹获取工作气体对应的多个经典光电离时间延迟;根据光电离时间延迟和多个经典光电离时间延迟获取工作气体对应的电子轨道半径。本发明基于阿秒条纹谱,能实现对电子轨道半径的直接测量,方法理论简单,计算难度低,计算量小,精度高,突破了目前还没有直接测量电子轨道半径的瓶颈,意义深远。

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权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

同领域国内专利 · IPC: (G01T5_00)

G01T5_00 覆盖1个领域
议价
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📋 交易方式: 委托待转让 📌 交易状态: 在售 👁️ 浏览次数:154 ❤️ 收藏人数:93 📋 项目申报: 未申报

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