发明专利 已授权

一种通过改进的非接触式光学干涉法测定软黏体粗糙度的方法

📄 申请号:CN201910954383.9 📄 发布日:2026/03/16

著录项目信息

申请日
2019-10-09
公开号
CN110631520B
公开日
2023-08-01
申请人
青岛科信信息科技有限公司
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

工业检测, 材料表面分析, 质量控制, 精密制造

摘要

本发明公开了一种测定软黏体粗糙度的方法,包括下列步骤:(1)通过改进的非接触式光学干涉法,测量受法向力状态下的不同目数的砂纸表面,利用光洁透明传压板对不同目数的砂纸传递不同法向力,将砂纸界面的实际表面轮廓问题转化为构成轮廓所需微凸体的高度分布,根据砂纸表面微凸体的高度分布导出砂纸粗糙度概率密度函数,作为标准粗糙度;(2)通过改进的非接触式光学干涉,在与(1)相同的方法对软黏体的表面轮廓进行测量,并根据软黏体表面微凸体的高度分布导出软黏体粗糙度概率密度函数;(3)将步骤(2)得到的结果代入步骤(1)中进行对比,得到的数值与哪个目数砂纸的相符合,即定义黏性土粗糙度为该目数。本发明首次确定了软黏体粗糙度的方法,并将软黏体的粗糙度代换为标准砂纸的粗糙度,推进了粗糙度的标准化表达;采用非接触的方式测量粗糙度,可以最大限度的还原受力时软黏体的原始表面轮廓。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

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