发明专利 已授权

跌落测试装置

📄 申请号:CN201911267288.8 📄 发布日:2026/02/09

著录项目信息

申请日
2019-12-11
公开号
CN110836759B
公开日
2024-09-03
申请人
深圳市尼柯光学精密技术有限公司
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

电子产品可靠性测试, 消费品跌落安全检测, 包装运输防护测试, 汽车零部件抗冲击测试

摘要

本发明涉及跌落测试装置领域,特别涉及一种跌落测试装置,包括检测台、筒体、撞击块、负压单元以及控制单元,所述的检测台用于放置待测试物品,筒体设置在待测试物品正上方,撞击块设置在筒体内且可顺延筒体上下移动,负压单元为撞击块上方的筒体内腔提供负压,控制单元控制负压单元的启动和停止。通过设置筒体和撞击块,就可以让撞击块沿着筒体对待测试物品进行跌落测试,并且在一次跌落撞击后,能够通过负压单元将撞击块继续吸上去,这样就可以实现重复使用,并且还能避免二次跌落造成的测试结果不准确现象,本装置结构简单、成本低,使用起来非常可靠。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

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📋 交易方式: 委托待转让 📌 交易状态: 在售 👁️ 浏览次数:76 ❤️ 收藏人数:93 📋 项目申报: 未申报

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