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摘 要:本发明提供一种磁瓦表面微缺陷视觉检测方法,读取磁瓦图像,检测磁瓦图像缺陷,获取磁瓦图像的缺陷区域K,判断缺陷区域K的面积是否大于设定值1;检测磁瓦图像缺陷,获取磁瓦图像的第二类缺陷效果图,判断第二类缺陷效果图的长度是否大于设定值2;检测磁瓦图像缺陷,获取磁瓦图像的边缘检测图像Q'连通域像素的圆度,判断边缘检测图像Q'连通域像素的圆度是否大于设定值3,三个判断过程可以判断磁瓦是否属于三种类型的缺陷,本发明磁瓦表面微缺陷视觉检测方法对光照变化、磁瓦类型变化适应性强;能对磁瓦的各种不同类型的缺陷都进行检测;本发明获得的磁瓦的缺陷图像比采用传统方法获得的磁瓦的缺陷图像更为清晰准确。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201810095999.0 | 专利名称: | 磁瓦表面微缺陷视觉检测方法 |
申请日: | 2018-01-31 | 申请/专利权人 | 浙江理工大学 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 浙江省杭州市下沙高教园区2号大街5号 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G06T7/00搜分类 磁性材料 磁瓦生产 图像检测 质量检测搜索 |
公开/公告日: | 2023-10-20 | 转让价格: | 面议 |
公开/公告号: | CN108230324B | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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日期 | 法律信息 | 备注 |