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摘 要:本发明涉及一种基于光谱干涉装置的测量系统,主要解决现有技术中存在的测量精度不足的技术问题,本发明通过采用所述测量系统包括光源,与光源依次连接的扩束准直透镜、起偏器、检偏器、自聚焦透镜、光谱仪及数据处理单元;待测双折射晶体连接于所述起偏器与检偏器之间;所述起偏器用于将经扩束准直透镜输出的平行光起偏为线偏振光;所述起偏器(的偏振轴与待测双折射晶体的任意偏振轴有夹角θ;检偏器与待测双折射晶体的任意偏振轴夹角为45度的技术方案,较好的解决了该问题,可用于双折射晶体厚度测量。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201710259114.1 | 专利名称: | 一种基于光谱干涉装置的测量系统 |
申请日: | 2017-04-19 | 申请/专利权人 | 张家港市欧微自动化研发有限公司 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 江苏省苏州市张家港市杨舍镇塘市新泾中路10-1号5室 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01B11/06搜分类 光学仪器搜索 |
公开/公告日: | 2017-09-01 | 转让价格: | 面议 |
公开/公告号: | CN107121077A | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
解除代理委托书(需盖公章)一式两份(如专利通过代理机构申请) | 解除代理委托书(需签字)一式两份(如专利通过代理机构申请) | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
专利请求书或手续合格通知书、授权通知书复印件 | 专利请求书或手续合格通知书、专利授权通知书复印件 | |
专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |
2019/09/27 | 授权 | |
2019/09/06 | 专利申请权的转移 | 登记生效日: 2019.08.20 申请人由张家港市欧微自动化研发有限公司变更为泰州阿法光电科技有限公司 地址由215634 江苏省苏州市张家港市杨舍镇塘市新泾中路10-1号5室变更为225300 江苏省泰州市海陵工业园区12号 |
2017/09/26 | 实质审查的生效 | IPC(主分类): G01B 11/06 专利申请号: 201710259114.1 申请日: 2017.04.19 |
2017/09/01 | 公开 |