发明专利已授权

一种单颗磁性磨粒磁场力测量方法及装置

📄 申请号：CN202010488154.5 📄 发布日：2026/08/11

著录项目信息

申请日

2020-06-02

公开号

CN111610137B

公开日

2023-08-11

申请人

辽宁科技大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01N15_10

IPC 分类号

G01N15_10

技术画像

所属领域

其他分类其他

应用场景

磁力研磨, 精密光整加工, 表面抛光, 磁性磨料制备, 工艺参数优化

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摘要

本发明涉及磁粒研磨表面光整技术领域，尤其涉及一种单颗磁性磨粒磁场力测量方法及装置。包括工作台、永磁极、磁极夹持机构、三轴移动机构、磨粒存储器、磁性磨粒及电子天平；所述三轴移动机构设于电子天平上且能沿X、Y、Z三轴移动，工作台固定在电子天平上，测量时磁极夹持机构将永磁极夹持固定在工作台上；磁性磨粒放置在磨粒存储器内，磨粒存储器固定在三轴移动机构上，磨粒存储器位于永磁极的上方，通过三轴移动机构调节磁性磨粒与永磁极间的间隙。实现了对微小粒径磁性磨粒磁场力的测量，为磁粒研磨光整加工技术中磁性磨粒磁场力的理论分析提供实验验证。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

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当前第 / 件

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