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专利详情
实用新型
已授权
一种纳米涂层膜厚检测装置
📄 申请号:CN202321931882.4
📄 发布日:2025/10/15
著录项目信息
申请日
2023-07-21
公开号
CN220270413U
公开日
2023-12-29
申请人
上海仁晶测量技术有限公司
法律状态
已下证
专利类型
实用新型
主分类号
G01B21_08
IPC 分类号
G01B21_08
技术画像
所属领域
检测装置
精密测量
纳米涂层
检测仪器
膜厚检测
检测装置
应用场景
工业检测, 涂层质量检测, 表面工程, 半导体制造, 精密制造
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摘要
本实用新型涉及纳米涂层膜厚检测技术领域,且公开了一种纳米涂层膜厚检测装置,包括工作台,所述工作台的顶部设置有固定框,所述固定框的左侧设置有第一电机,所述第一电机的输出轴设置有延伸至固定框内部且与其内壁右侧转动连接的第一螺杆,所述第一螺杆的外侧设置有移动座,所述移动座的顶部设置有延伸至工作台上方的支撑架,所述支撑架的顶部设置有电动伸缩杆,所述电动伸缩杆的输出端延伸至支撑架的底部并设置有膜厚检测仪器本体,所述工作台的顶部设置有位于固定框前侧的活动座。该纳米涂层膜厚检测装置,有效帮助使用者对涂层膜零件进行限位固定,有效提高膜厚检测装置的检测准度,有效提高膜厚检测装置的实用性。
权利要求书 (12项)
说明书
附图
……
……
图1
图2
图3
法律状态时间线
一种涂膜厚度可调的涂膜装置
当前第 / 件
一种精密陶瓷薄板平面度加工的装置
同领域国内专利 · IPC: (G01B21_08)
G01B21_00
G01B21_02
G01B21_04
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覆盖
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