实用新型 已授权

一种纳米涂层膜厚检测装置

📄 申请号:CN202321931882.4 📄 发布日:2025/10/15

著录项目信息

申请日
2023-07-21
公开号
CN220270413U
公开日
2023-12-29
申请人
上海仁晶测量技术有限公司
法律状态
已下证
专利类型
实用新型
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

工业检测, 涂层质量检测, 表面工程, 半导体制造, 精密制造

摘要

本实用新型涉及纳米涂层膜厚检测技术领域,且公开了一种纳米涂层膜厚检测装置,包括工作台,所述工作台的顶部设置有固定框,所述固定框的左侧设置有第一电机,所述第一电机的输出轴设置有延伸至固定框内部且与其内壁右侧转动连接的第一螺杆,所述第一螺杆的外侧设置有移动座,所述移动座的顶部设置有延伸至工作台上方的支撑架,所述支撑架的顶部设置有电动伸缩杆,所述电动伸缩杆的输出端延伸至支撑架的底部并设置有膜厚检测仪器本体,所述工作台的顶部设置有位于固定框前侧的活动座。该纳米涂层膜厚检测装置,有效帮助使用者对涂层膜零件进行限位固定,有效提高膜厚检测装置的检测准度,有效提高膜厚检测装置的实用性。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

议价
不含过户费

📋 交易方式: 委托待转让 📌 交易状态: 在售 👁️ 浏览次数:79 ❤️ 收藏人数:93 📋 项目申报: 未申报

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