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摘 要:一种光学晶体气体检测系统,其特征在于,包括多孔硅褶皱光学晶体、测试腔体、探头以及光谱仪,所述多孔硅褶皱光学晶体置于所述测试腔体内,所述多孔硅褶皱光学晶体是简单型的多孔硅褶皱光学晶体或复合型的多孔硅褶皱光学晶体,所述多孔硅褶皱光学晶体表面在所述测试腔体内是裸露的,所述探头用于探测所述多孔硅褶皱光学晶体发出的光学信号,所述光谱仪与探头连接,用于测量所述探头探测到的光学信号。采用测试腔体与多孔硅褶皱光学晶体直接组成的传感系统,无需复杂加工过程、易于实现、成本低、灵敏度高、检测速度快、可重复使用、不存在试剂问题,便于推广应用。此外还提供一种多孔硅褶皱光学晶体的制备方法。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201110323736.9 | 专利名称: | 光学晶体气体检测系统及多孔硅褶皱光学晶体的制备方法 |
申请日: | 2011-10-21 | 申请/专利权人 | 中国科学院深圳先进技术研究院 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 广东省深圳市南山区西丽大学城学苑大道1068号 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01N21/25搜分类 纳米材料搜索 |
公开/公告日: | 2014-07-02 | 转让价格: | 面议 |
公开/公告号: | CN102507452B | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
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专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |