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摘 要:本发明涉及图像处理技术领域,具体涉及一种光学薄膜的微观质量高精度检测方法,包括:获取光学薄膜的微观灰度图像;根据微观灰度图像中每行像素点的灰度值分布和每列像素点的灰度值分布,分析灰度值的周期性特征,得到滑动窗口的尺寸大小;根据微观灰度图像中每个滑动窗口在不同方向上不同的滑动长度的相邻的滑动窗口之间的灰度差异得到结构关联因子;根据每个滑动窗口对应的每个相邻的滑动窗口内属于目标的像素点分布特征和对应的滑动长度,结合所述结构关联因子,得到每个滑动窗口的微观特征评价;根据微观灰度图像中每个滑动窗口的微观特征评价分析光学薄膜的缺陷特征程度,得到质量评价结果。本发明能够获得更加准确的微观质量检测结果。
著 录 项:
专利/申请号: | CN202410986054.3 | 专利名称: | 一种光学薄膜的微观质量高精度检测方法 |
申请日: | 2024-07-23 | 申请/专利权人 | 惠州艺都宇正数码科技有限公司 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 广东省惠州市仲恺高新区和畅东五路6号厂房B |
专利状态: | 授权未缴费 查询审查信息 | 分类号: | G06T7/00搜分类 光学仪器搜索 |
公开/公告日: | 2024-08-20 | 转让价格: | 20000.0元 |
公开/公告号: | CN118521584A | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
解除代理委托书(需盖公章)一式两份(如专利通过代理机构申请) | 解除代理委托书(需签字)一式两份(如专利通过代理机构申请) | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
专利请求书或手续合格通知书、授权通知书复印件 | 专利请求书或手续合格通知书、专利授权通知书复印件 | |
专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |