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摘 要:本发明涉及一种检测金属深孔微弯的探测器及其方法,该探测器包括传感器组件和连接在传感器组件输入端的光开关,以及连接在光开关输入端的环形器,所述环形器的输入端连接有宽带光源,所述环形器的另一个输出端与耦合器的输入端连接,且所述耦合器的输出端分别与光功率计和解调仪的输入端连接。本发明提出的检测方法采用F‑P干涉原理,其中光纤端面与金属深孔内壁构成F‑P腔结构,利用峰值检波的方法解调出F‑P腔长与自由谱宽之间的关系,确定了金属深孔内壁与传感探测器之间的距离,该精度可达μm量级,能够精准判断金属深孔的微弯程度及位置,具有非常理想的技术效果。
著 录 项:
专利/申请号: | CN202010172384.0 | 专利名称: | 一种检测金属深孔微弯的探测器及其方法 |
申请日: | 2020-03-12 | 申请/专利权人 | 燕山大学 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 河北省秦皇岛市海港区河北大街西段438号 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01B11/16搜分类 微 微生物采样 检测搜索 |
公开/公告日: | 2021-08-17 | 转让价格: | 面议 |
公开/公告号: | CN111238390B | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
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卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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日期 | 法律信息 | 备注 |