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摘 要:本发明涉及一种克服尺寸效应的岩体结构面粗糙度评价方法,操作步骤为:在天然岩体结构面上,选取具有代表性长度为L的大尺寸剖面,并对剖面进行标示;沿选定的剖面架设测量仪器,在剖面上采集n条长度为l的小尺寸剖面;确保采集数量n大于有效采集数量ne;对获取的n条剖面进行数字化;采用变量图法计算n条剖面的分形维数D,得到n个分形维数D值;将n个分形维数D值进行平均,获得分形维数平均值通过来描述所选择长度为L的大尺寸剖面粗糙度,实现以小尺寸岩体结构面粗糙度来表征大尺寸岩体结构面粗糙度,并消除尺寸效应带来的误差。本发明通过测量部分岩体结构面粗糙度来评价整体岩体结构面粗糙度,评价结果真实可靠,具有较高精度。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201310665286.0 | 专利名称: | 一种克服尺寸效应的岩体结构面粗糙度测量方法 |
申请日: | 2013-12-10 | 申请/专利权人 | 中国地质大学(武汉) |
专利类型: | 发明 | 地址: | 湖北省武汉市洪山区鲁磨路388号 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01B11/30搜分类 测量测绘 岩体搜索 |
公开/公告日: | 2014-12-24 | 转让价格: | 面议 |
公开/公告号: | CN103644866B | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
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专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |