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摘 要:本发明属于分析检测领域,具体涉及于LA‑ICP‑MS的锆石U‑Pb快速定年方法,本发明的方法将传统的LA‑ICP‑MS锆石U‑Pb定年测试效率由20点/每小时提升至240点/每小时,分析时间由60‑80秒降低至5‑9秒,分析效率提升一个数量级。单位时间内剥蚀物质量提升,导致待测元素Pb和U的信号提升,高频率剥蚀使LA‑ICP‑MS分析低含量物质的能力得到提升;激光脉冲数仅为100‑180次,显著降低了锆石的消耗量和剥蚀坑的深度。极大地节约了地质行业相关基础地球科学研究、区域地质调查、区域矿产资源勘查的测试费用。
著 录 项:
专利/申请号: | CN202110013402.5 | 专利名称: | 一种LA-ICP-MS的锆石U-Pb快速定年方法 |
申请日: | 2021-01-06 | 申请/专利权人 | 中国地质大学(武汉) |
专利类型: | 发明 | 地址: | 湖北省武汉市洪山区鲁磨路388号 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01N27/62搜分类 C IC P L LED芯片搜索 |
公开/公告日: | 2021-04-13 | 转让价格: | 面议 |
公开/公告号: | CN112649492A | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
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专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
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专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |