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摘 要:本发明提出了一种芯片外观不良识别方法和系统,所述方法包括:在芯片进入电性能检测装置之前的传送装置上,对准备进行电性能检测的待测芯片进行扫描和第一次自然数编码;在电性能检测装置的过程中,将所述存在不良外观标定识别码及所述存在不良外观标定识别码的芯片所对应的第一次自然数编码发送至所述电性能检测装置的控制系统中;在进入所述电性能检测装置之后,且在所述电性能检测装置在对每个芯片进行电性能检测之前,按芯片传送顺序进行芯片扫描,并对扫描到的芯片进行第二次自然数编码;利用所述不良外观标定识别码、第一次自然数编码和第二次自然数编码,确定是否对所述待测芯片进行电性能检测。所述系统包括与所述方法步骤对应的模块。
著 录 项:
专利/申请号: | CN202210172285.1 | 专利名称: | 一种芯片外观不良识别方法和系统 |
申请日: | 2022-02-24 | 申请/专利权人 | 发明之家(北京)科技有限公司 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 北京市朝阳区建国路乙118号11层02A室 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G06K7/10搜分类 集成电路搜索 |
公开/公告日: | 2022-10-11 | 转让价格: | 面议 |
公开/公告号: | CN114580454B | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
专利请求书或手续合格通知书、授权通知书复印件 | 专利请求书或手续合格通知书、专利授权通知书复印件 | |
专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |