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摘 要:本发明公开基于SIW‑CSRR的用于测量介电常数的微波传感器。本发明包括介质层、顶层金属层、底层金属层;顶层金属层刻槽有两个金属CSRR结构;上述两个金属CSRR结构由大小不同的两个开口环谐振器构成,其中开口环谐振器为开口槽环;较小开口环谐振器内嵌在较大开口环谐振器内;两个开口环谐振器的开口方向相反;较大开口环谐振器开口处至较小开口环谐振器的空间位置为电场强度最大、磁场强度最小的区域,该区域放置待测样品。本发明产品抗干扰能力更强,结构更简单,低成本,便于携带且该传感器的灵敏度和质量因子表现的很好,同时该新型微波谐振器的Q值达到786.5,很适用于精确测量磁介质材料的介电常数。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201910766950.8 | 专利名称: | 基于SIW-CSRR的用于测量介电常数的微波传感器 |
申请日: | 2019-08-20 | 申请/专利权人 | 杭州电子科技大学 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 浙江省杭州市下沙高教园区2号大街 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01R27/26搜分类 传感器搜索 |
公开/公告日: | 2022-05-13 | 转让价格: | 面议 |
公开/公告号: | CN110531164B | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
专利请求书或手续合格通知书、授权通知书复印件 | 专利请求书或手续合格通知书、专利授权通知书复印件 | |
专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |
2022/05/13 | 授权 | |
2019/12/27 | 实质审查的生效 | IPC(主分类): G01R 27/26 专利申请号: 201910766950.8 申请日: 2019.08.20 |
2019/12/03 | 公开 |