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摘 要:本发明公开了一种芯片性能测试方法、装置及系统,该方法包括:当接收到对待测试芯片进行测试的测试指令时,信号产生单元根据该测试指令产生指定类型的测试信号,并输出该测试信号,信号连接单元根据测试内容通过开关组件的开合状态,形成将该测试信号输入到信号接收处理单元的闭合回路,当该信号接收处理单元接收到从该闭合回路输入的该测试信号时,对该测试信号进行处理得到结果数据,该结果数据用于与预置判定数据进行比较,以得出与测试内容对应的的测试结果。本发明可在该待测试芯片的内部实现对芯片性能的测试,提高测试结果的准确性,并降低测试成本。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201610126052.2 | 专利名称: | 一种芯片性能测试方法、装置及系统 |
申请日: | 2016-03-04 | 申请/专利权人 | 深圳市汇顶科技股份有限公司 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 广东省深圳市福田保税区腾飞工业大厦B座13层 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01R31/28搜分类 集成电路搜索 |
公开/公告日: | 2020-01-03 | 转让价格: | 面议 |
公开/公告号: | CN107153158B | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
专利请求书或手续合格通知书、授权通知书复印件 | 专利请求书或手续合格通知书、专利授权通知书复印件 | |
专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |