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| 专利/申请号： | CN201610126052.2 | 专利名称： | 一种芯片性能测试方法、装置及系统 |
| 申请日： | 2016-03-04 | 申请/专利权人 | 深圳市汇顶科技股份有限公司 |
| 专利类型： | 发明 | 地址： | 广东省深圳市福田保税区腾飞工业大厦B座13层 |
| 专利状态： | 已下证 查询审查信息 | IPC分类号： | G01R31/28 分类检索 |
| 公开/公告日： | 2020-01-03 | 转让价格： | 【平台担保交易】 |
| 公开/公告号： | CN107153158B | 交易状态： | 等待洽谈 搜索相似专利 |
| 浏览量： | 61 | 所属领域： | 集成电路 性能测试方法专利转让搜索 |
摘 要：本发明公开了一种芯片性能测试方法、装置及系统，该方法包括：当接收到对待测试芯片进行测试的测试指令时，信号产生单元根据该测试指令产生指定类型的测试信号，并输出该测试信号，信号连接单元根据测试内容通过开关组件的开合状态，形成将该测试信号输入到信号接收处理单元的闭合回路，当该信号接收处理单元接收到从该闭合回路输入的该测试信号时，对该测试信号进行处理得到结果数据，该结果数据用于与预置判定数据进行比较，以得出与测试内容对应的的测试结果。本发明可在该待测试芯片的内部实现对芯片性能的测试，提高测试结果的准确性，并降低测试成本。
| 交易方 | 企业 | 个人 |
| 买家 | 营业执照副本复印件（需盖公章） | 身份证复印件（签字） |
| 专利转让委托书（需盖公章）一式两份 | 专利转让委托书（需签字）一式两份 | |
| 专利转让协议（需盖公章）一式两份 | 专利转让协议（需签字）一式两份 | |
| 卖家 | 营业执照副本复印件（需盖公章） | 身份证复印件（需申请人签字） |
| 解除代理委托书（需盖公章）一式两份（如专利通过代理机构申请） | 解除代理委托书（需签字）一式两份（如专利通过代理机构申请） | |
| 专利转让协议（需盖公章）一式两份 | 专利转让协议（需签字）一式两份 | |
| 专利请求书或手续合格通知书、授权通知书复印件 | 专利请求书或手续合格通知书、专利授权通知书复印件 | |
| 专利证原件（若授权下证） | 专利证原件（若授权下证） |
| 日期 | 法律信息 | 备注 |
| 申请号 | 专利名称 | 发布日期 |
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