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摘 要:本实用新型公开了一种半导体晶片厚度检测装置,涉及厚度检测装置技术领域。本实用新型包括安装架,所述安装架的顶部固定安装有检测仪本体,所述安装架的上方设置有放置板,还包括升降机构,所述升降机构用于连接所述放置板和所述安装架且控制所述放置板的高度,所述放置板的表面开设有放置槽,所述放置槽的内壁开设有环形槽。本实用新型,在使用时,使用者通过升降机构控制放置板的高度,将晶片放置在环形槽的内壁,通过检测仪本体对晶片进行厚度检测,检测完成后,将手伸入放置槽捏住晶片即可直接将晶片拿出,如此设置,解决了传统晶片因为较薄,所以难以拿取的问题,体现了装置的实用性。
著 录 项:
专利/申请号: | CN202322788141.1 | 专利名称: | 一种半导体晶片厚度检测装置 |
申请日: | 2023-10-18 | 申请/专利权人 | 亚摩信息技术(上海)有限公司 |
专利类型: | 实用新型 | 地址: | 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区富特北路211号302部位368室 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01B11/06搜分类 半导体 厚度检测搜索 |
公开/公告日: | 2024-07-02 | 转让价格: | 面议 |
公开/公告号: | CN221259792U | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
专利请求书或手续合格通知书、授权通知书复印件 | 专利请求书或手续合格通知书、专利授权通知书复印件 | |
专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |
2024/07/02 | 授权 |