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摘 要:本发明涉及一种提高折射率传感器件品质因数的结构及测试方法,属于传感器折射率品质因数的领域。该结构由基底、位于基底表面的复合层组成,所述复合层包括上金属层、中间半导体层和下介电层,其中上金属层为周期性的金属纳米颗粒阵列,中间半导体层为周期性的半导体纳米柱阵列,下介电层为周期性的介电纳米柱阵列。利用本发明中金属纳米颗粒的局域表面等离激元共振、半导体纳米柱的米氏共振与周期阵列的衍射波之间的多元耦合作用,以及介电纳米柱减弱的衬底效应,能获得灵敏度较高、带宽极窄的等离激元晶格共振,克服了传统金属等离激元晶格共振结构存在带宽较宽的问题,提高了折射率传感器件的品质因数,在生物、医学、食品等领域具有广泛应用。
著 录 项:
专利/申请号: | CN202010680808.4 | 专利名称: | 一种提高折射率传感器件品质因数的结构及测试方法 |
申请日: | 2020-07-15 | 申请/专利权人 | 常州机电职业技术学院 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 江苏省常州市武进区鸣新中路26号 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01N21/41搜分类 传感器搜索 |
公开/公告日: | 2023-03-10 | 转让价格: | 26000.0元 |
公开/公告号: | CN111879728B | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
专利请求书或手续合格通知书、授权通知书复印件 | 专利请求书或手续合格通知书、专利授权通知书复印件 | |
专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |