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摘 要:本发明是利用本质矩阵的性质标定锥镜面折反射摄像机的方法。利用空间中的一条直线作为靶标,首先,用锥镜面折反射摄像机从不同的位置拍摄2幅含有一条直线的图像,分别从2幅图像中提取靶标图像边缘点,得到2幅图像的对应特征点。在对应特征点的上,根据反射投影模型获得直线在锥镜面上的投影点,从而确定两幅图像之间的本质矩阵。其次,由本质矩阵性质构造一个目标函数。最后,利用粒子优化算法最小化目标函数,从而得到锥镜面折反射摄像机内参数。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201810017194.4 | 专利名称: | 利用本质矩阵的性质标定锥镜面折反射摄像机的方法 |
申请日: | 2018-01-09 | 申请/专利权人 | 云南大学 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 云南省昆明市呈贡新区大学城云南大学 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G06T7/80搜分类 摄影摄像 摄像机 摄影摄像搜索 |
公开/公告日: | 2022-05-20 | 转让价格: | 面议 |
公开/公告号: | CN108346164B | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
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专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |