本发明涉及一种集成自偏置PMOS的低功耗LIGBT器件,属于半导体技术领域。该器件包括衬底、埋氧层、漂移区、P型埋层、普通MOS区、自偏置PMOS区以及阳极区。衬底、埋氧层、漂移区自下而上依次设置,P型埋层设置在漂移区内,被漂移区完全包裹。普通MOS区与自偏置PMOS区相邻,阳极区位于器件的右上侧。本发明通过集成自偏置PMOS区域能够在阳极电压增加时,降低器件的饱和电流;在器件关断时降低器件的关断损耗;在短路工作时提高器件的短路工作特性。
📄 2022113184775
📂 H10D12_00
👤 重庆邮电大学
📅 2022-10-26