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本发明提供一种基于DE算法和非均匀B样条曲线的光谱基线校正方法，针对ICP‑AES检测系统中存在的基线漂移现象，以光谱基线校正过程中极小值序列的标准偏差作为评价指标，以非均匀B样条曲线作为基线模型，以曲线的控制点序列C和内接点序列T作为评价函数特征参数，建立光谱基线校正评价函数，利用差分进化算法求解评价函数的最优解，拟合出NURBS曲线作为光谱基线，从而对光谱曲线校正。解决现有常见基线校正方法局限性大且运算量高的问题。利用非均匀B样条拟合光谱基线，非均匀B样条的控制点序列C与内节点序列T作为评价函数特征参数和差分进化的初始条件之二，自适应选择一组最优的参数C与T，避免了经验选择参数C与T。