专利交易市场

本发明属于故障诊断领域，公开了一种基于PMC模型的并行自适应诊断方法,当指定系统中包含多个子结构且这些子结构都包含哈密顿圈时，分别对这些小的哈密顿圈进行顺时针测试，将其划分为可疑和正确两种。然后对可疑哈密顿圈进行测试，并将其划分为若干序列，根据序列的数量和PMC的测试规则将结点的状态分为故障结点，无故障结点和未知结点,对于剩余仍未知结点再进行一轮测试来确定其状态是故障的还是非故障的，从而诊断出所有故障结点。本发明能够很好地对发生故障的结点进行快速定位,具有很好的普适性和准确率,只要多处理器系统可以分为多个哈密顿圈子结构，都可以采用该诊断方法，在多处理器系统故障诊断的应用上有着广泛的市场前景。