专利名称:一种三极管的可调节测试夹具
申请号:2022227357756
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法律状态:已下证
类型:实用新型
关键词:电子元件测试设备 半导体器件检测技术
相似专利
发布日:2025/09/05
应用场景:电子元器件生产线质量检测;科研实验室参数校准;自动化产线兼容性适配;教学实训设备开发;维修服务中心故障诊断
专利名称:一种电子元件测试设备
申请号:2022223435544
转让价格:面议 收藏
法律状态:已下证
类型:实用新型
关键词:电子设备和元器件 电子元件测试设备
相似专利
发布日:2025/06/13
摘要: 本实用新型涉及电子元件测试技术领域,具体涉及一种电子元件测试设备,包括壳体、设置于壳体顶面的测试槽、设置于壳体顶面靠近测试槽的测试件,设置于壳体两侧的测试杆,还包括:设置于测试件侧面的导电块、开设于壳体内部的第二安装槽,所述第二安装槽的顶面连接有弹性柱,所述弹性柱的一端连接有第一开关触片,所述第二安装槽靠近第一开关触片的侧面连接有第二开关触片,本实用新型在使用的过程中,当电子元件发生漏电时,可以发出警报提醒操作人员,同时可以自动将测试杆与电子元件分离,进而本申请可以在电子元件进行其他测试的过程中,同时对电子元件进行漏电检测,减少由于电子元件漏电导致测试件等损伤的问题。
专利名称:一种二极管用检测分类装置
申请号:2019110025510
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法律状态:已下证
类型:发明
关键词:电子元件测试设备 半导体器件分拣系统 自动化质量控制
相似专利
发布日:2025/09/04
应用场景:半导体生产线末端的质量检测工位;电子元器件仓储前的自动化分级入库;电子产品组装前的参数匹配筛选