专利名称:一种基于自由曲面的离轴稀疏孔径两反光学成像系统
申请号:2018112518293
转让价格:面议 收藏
法律状态:已下证
类型:发明
关键词:光学仪器 光学成像系统
相似专利
发布日:2025/08/12
摘要: 本发明提供一种基于自由曲面的离轴稀疏孔径两反光学成像系统。该稀疏孔径两反光学成像系统包括沿系统光轴自左向右依次设置的外置入瞳和主反射镜,在外置入瞳的右下方设置有次反射镜,该光学成像系统的焦面位于主反射镜的左上方。主反射镜为球面反射镜,次反射镜为自由曲面反射镜;主反射镜为稀疏孔径结构,由多个分散的子反射镜构成。本发明具有光阑外置、大视场角以及填充因子大的特点,适用于成像光谱仪等空间遥感领域。
专利名称:一种基于自由曲面的稀疏孔径两反光学成像系统
申请号:2018112517657
转让价格:面议 收藏
法律状态:已下证
类型:发明
关键词:光学仪器 光学成像系统
相似专利
发布日:2025/08/12
摘要: 本发明提供一种基于自由曲面的稀疏孔径两反光学成像系统。该稀疏孔径两反光学成像系统包括沿系统光轴自左向右依次设置的次反射镜和主反射镜,该光学成像系统的焦面位于主反射镜的右方。主反射镜为自由曲面反射镜,次反射镜为双曲面反射镜;主反射镜为稀疏孔径结构,由多个分散的子反射镜构成。本发明具有共光轴以及较大视场角的特点,适用于成像光谱仪等空间遥感领域。
专利名称:荧光散射光学成像系统及方法
申请号:2016800001016
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法律状态:已下证
类型:
关键词:光学仪器 光学成像系统
相似专利
发布日:2024/10/31
摘要: 本发明提供一种荧光散射光学成像系统及方法,该系统包括:激光器、微位移台、载物台、至少一个平面反光镜、滤光片、CCD相机及处理器;该激光器的光纤头搭载在该微位移台上;该平面反光镜的反射面朝向该载物台上的待测物;该微位移台及该CCD相机与该处理器电连接;该微位移台用于根据该处理器的控制信号在二维平面移动;该激光器用于扫描内置荧光物质的待测物的待测区以激发荧光;该CCD相机用于直接及基于该平面反光镜的反射获取荧光图像及激光图像;该处理器用于获取CCD相机的位置信息、光纤头的位置信息、平面反光镜的位置信息、待测物的CT图像或MRI图像、该荧光图像及激光图像,生成待测区的三维荧光图像。本发明能够提高成像质量且简化系统结构。
专利名称:光学成像系统、方法、装置及存储介质
申请号:201811365902X
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法律状态:已下证
类型:发明
关键词:光学仪器 光学成像系统
相似专利
发布日:2024/12/19
摘要: 本发明涉及光学成像系统、方法、装置及存储介质,该光学成像系统包括:聚合物弹性探针阵列、光学透镜、摄像装置和处理装置;通过控制装置控制聚合物弹性探针阵列以恒定高度接触式扫描待测样品表面;光学透镜接收聚合物弹性探针阵列在扫描待测样品表面时因压缩形变而反射的光强信号,呈现光强信号对应的物像;摄像装置采集物像所对应的光强图像控制装置;控制装置对光强图像进行处理,获得待测样品的表面形貌图像。上述技术方案解决了传统光学成像镜分辨率低,原子力显微镜扫描表征效率低的技术问题,提高待测样品表面形貌图像的分辨率和表征效率,且聚合物弹性探针阵列具有制备成本低、对样品表面无损伤、可大面积制备阵列和可反复使用的优点。
专利名称:一种寻找成像系统最优工作参数的系统和方法
申请号:2017104174133
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法律状态:已下证
类型:发明
关键词:光学成像系统 图像处理技术 自动化参数优化
相似专利
发布日:2025/10/15
应用场景:相机、显微镜等成像设备的工作参数自动校准;工业检测中的成像质量提升;医疗影像设备的参数优化