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专利名称：一种集成电路板测试辅助器申请号：2023221697655 转让价格：面议收藏
法律状态：已下证类型：实用新型关键词：集成电路集成电路板测试相似专利发布日：2024/12/13
摘要：本实用新型公开了一种集成电路板测试辅助器，包括底板，其特征是：所述底板的上侧固定连接对称的支撑柱，对称的所述支撑柱的上端均固定横梁的下侧，所述横梁的上侧中心固定支撑板，所述底板的上侧固定电动推杆的外壳，所述电动推杆的伸缩杆上端固定连接升降杆的一端，所述升降杆的另一端固定连接检测板的上侧，所述横梁连接辅助固定模块。本实用新型涉及集成电路板测试技术领域，具体地讲，涉及一种集成电路板测试辅助器。本装置能够方便集成电路板进行辅助固定。

专利名称：一种用于集成电路板测试点布局方法申请号：2014105913942 转让价格：面议收藏
法律状态：已下证类型：发明关键词：集成电路布纺织面料电路板集成电路板测试相似专利发布日：2023/10/07
摘要：本发明公开了一种用于集成电路板测试点布局方法，该方法包含如下步骤：根据集成电路板的面积大小、同一功能的测试点数量，选定测试点模块位置；根据选定所述测试点模块位置的面积大小、同一功能的测试点数量，在所述集成电路板上布局所述测试点模块；根据所述测试点模块的面积大小、测试点数量，制作与其匹配的测试针模块。本发明提供的一种用于集成电路板测试点布局方法，将集成电路板上的测试点按照功能模块化布局；约定每个测试点到相邻的测试点距离相同，使得集成电路板上的测试点区域看起来整齐规律，使得调试人员在一个功能模块内，便于找到该功能的各个测试点。

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