精密测试技术类专利转让_商标转让

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专利名称：一种基于DP-PSO-SVR的齿廓偏差测量方法申请号：202010380810X 转让价格：面议收藏
法律状态：已下证类型：发明关键词：精密测试技术相似专利发布日：2025/07/09
摘要：本发明公开了一种基于DP‑PSO‑SVR的齿廓偏差测量方法，属于精密测试技术领域。针对现有技术中存在的测量成本高、精度低、使用寿命短的问题，本方法包括：测量待测齿轮的齿廓数据作为待测数据，测量测试齿轮的齿廓数据作为样本数据，并对待测齿轮的理论齿廓数据进行坐标变换处理；建立齿廓偏差数学模型；建立SVR模型；使用DP‑PSO算法和样本数据对SVR模型中的参数进行优化和训练，得到DP‑PSO‑SVR模型；使用DP‑PSO‑SVR模型对待测数据进行拟合，得到待测齿轮的实际渐开线，利用最小二乘法拟合理论齿廓数据得到理论渐开线，通过齿廓偏差数学模型计算得到实际渐开线与理论渐开线之间的齿廓偏差。本发明可以实现降低测量成本，提高测量精度，同时具有良好抗干扰性。

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