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专利名称:
一种半导体器件检测装置
申请号:
2022219690282
转让价格:面议
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法律状态:已下证 类型:实用新型 关键词:
半导体 器件 检测 半导体器件检测
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发布日:2022/12/27
摘要: 本实用新型提供了一种半导体器件检测装置,本实用新型涉及半导体技术领域,半导体器件检测装置,包括底座、固定台和检测台,固定台设于底座上端,检测台固定于底座上表面;本实用新型的有益效果在于:通过让电动伸缩杆以检测端头和滑座连接处为轴心向左拉动检测端头,或向右推动检测端头,能让检测端头对半导体器件的拍摄角度会发生变化,能让使用者根据需要对半导体器件进行拍摄检测,通过让电机通电并带动螺纹杆转动,并让滑座会在通槽内左右移动,便于使用者对检测端头和检测摄像头的位置进行调整,从而让使用者通过检测摄像头对半导体器件进行检测,通过与电动伸缩杆的结合,有利于提高对半导体器件检测装置的实用性。
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