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本申请公开了一种晶棒直径测量装置及测量方法，涉及单晶硅制备的技术领域，晶棒直径测量装置包括安装板、固定机构和测量机构，固定机构和测量机构均设置在安装板上；安装板上开设有若干个用于放置晶棒的安装槽，若干组固定机构沿安装槽长度方向间隔排布在安装槽两侧，测量机构设置在安装槽两侧且与固定机构交替间隔排布。本申请中的晶棒直径测量方法包括：S1：将两个限位环向远离安装槽的方向转动并将安装板调整为竖直状态；S2：提拉晶棒至安装槽内，通过第一托板、第二托板和固定机构对晶棒进行固定；S3：将安装板调整为水平状态；S7：利用测距传感器对晶棒直径进行测量。本申请能够对从冷却炉中提拉出来的晶棒直径进行检测。

本发明涉及建筑检测技术领域，其目的在于提供一种建筑物尺寸测量系统及测量方法。本发明公开了一种建筑物尺寸测量系统，包括视觉检测装置和与视觉检测装置对应设置的标靶，视觉检测装置设置在建筑物的待检测点上，标靶设置在远离建筑物的任一基准点上，标靶为多面体结构。本发明还公开了一种建筑物尺寸测量方法，包括：使视觉检测装置与建筑物的待检测点对应；使标靶与远离建筑物的任一基准点对应，在标靶上预设多个特征点，得到标靶的各特征点之间的距离；测量标靶的各特征点的方位信息；得到标靶相对于视觉检测装置的第一位姿；得到视觉检测装置相对于标靶的第一位姿。本发明测量效率高，可同时实现建筑物某待测点的位置和姿态的测量。

本发明提供基于相机标定的亚像素精度法兰盘尺寸测量方法及系统，其中，方法包括：步骤1：确定进行亚像素精度法兰盘尺寸测量时CCD相机的标定过程；步骤2：根据标定过程，进行标定辅助；步骤3：基于标定完成的CCD相机获取法兰盘图像；步骤4：根据法兰盘图像，获取法兰盘测量尺寸。本发明的基于相机标定的亚像素精度法兰盘尺寸测量方法及系统，确定进行亚像素精度法兰盘尺寸测量时CCD相机的标定过程，考虑到标定过程也涉及人工操作，容易引入误差，进行标定辅助。基于标定完成的CCD相机获取法兰盘图像，根据法兰盘图像，获取法兰盘测量尺寸。减少标定过程中带来的误差，提高相机标定的准确率，进而提升法兰盘尺寸测量精度。

本发明公开了林木尺寸测量仪，它包括手持架，手持架的顶端设置有把手，手持架的底端连接一个测量装置，测量装置包括操作板、连杆、左夹持臂和右夹持臂，左夹持臂和右夹持臂对称设置，左夹持臂和右夹持臂的前端倾斜向外延伸呈八字形；左夹持臂和右夹持臂的内侧设置有弧形的卡槽；左夹持臂上设置有计米器Ⅰ、测量线Ⅰ、绕线轴和前后滑动的前后夹持头，右夹持臂上设置有导向杆和左右滑动的左右夹持头。手持架上设置有控制器，控制器上设置有显示屏、时钟芯片、内存卡和键盘，显示屏设置在控制器的上表面，计米器Ⅰ和计米器Ⅱ的数据显示在显示屏上。本发明具有测量效率高，记录数据迅速，测量精度高和使用方便的特点。