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专利名称：一种用于光学元件的瞬态吸收测试系统及方法申请号：2021108720994 转让价格：面议收藏
法律状态：已下证类型：发明关键词：光学元件通用光学元件损伤探测光学零件检测系统相似专利发布日：2024/10/28
摘要：本发明公开了一种用于光学元件的瞬态吸收测试系统及方法，分光镜用于将激光器发射的激光分为两束激光；其中一束激光用于作为泵浦光照射到样品表面诱导损伤；另一束激光经透镜汇聚激发电离空气，产生两束具有相同脉宽和光谱范围的瞬态白光；设置两个透镜组用于收集瞬态白光，经透镜组处理的其中一束瞬态白光作为参考光，经光纤I收集于光谱仪；另一束瞬态白光作为探针光，经光纤II传递至样品处，与泵浦光一通聚集于样品上的相同位置。本发获得两束光谱成分和强度基本一致的两束宽光谱瞬态白光，验证了双光速瞬态吸收装置的可行性，提出双光束瞬态测试方法，研究光学元件在紫外激光辐照下瞬态吸收特性。

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