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专利名称：基于高光谱技术的绝缘子表面含水量的检测方法申请号：2019100716495 转让价格：面议收藏
法律状态：已下证类型：发明关键词：电力检测高光谱技术相似专利发布日：2024/01/23
摘要：一种基于高光谱技术的绝缘子表面含水量检测方法。它先利用高光谱成像仪拍摄已知不同表面含水量的绝缘子表面得到对应的高光谱图像，对高光谱图像进行黑白校正、多元散射校正、平滑去噪，得到表面含水量Si的高光谱谱线Xi，进而得到含水量BP神经网络预测模型；然后拍摄得到待测绝缘子的高光谱图像，进行黑白校正、多元散射校正、平滑去噪，得到待测绝缘子的高光谱谱线X0，将待测绝缘子的高光谱谱线X0输入预测模型，即可得到待测绝缘子的表面含水量。该方法能在带电情况下，对现场绝缘子进行非接触实时检测，其操作简单、易于实现；能方便地为绝缘子的防潮抗湿设计、制造和维护，提供可靠、准确的测试依据。

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