本发明公开了一种多尺度电离层TEC预测方法,包括以下步骤:数据去趋势,用最小二乘法将TEC数据拟合为一条直线作为趋势项,原数据减去趋势项得到非趋势项,非趋势项的均值为零;对非趋势项两端分别使用ARMA模型进行拓延得到,以降低VMD分解的端点效应;对利用VMD算法分解为个不同频率的IMF分量,然后将各分量两端的拓延部分去除,分别使用LSTM神经网络进行预测得到预测值;使用ARMA模型预测趋势项得到趋势项预测值,将趋势项的预测值与非趋势项各分量的预测值重构得到最终预测值。提高了预测结果的精度和稳定性。
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📂 G06F30_27
👤 华东交通大学
📅 2020-11-13