专利名称：一种半导体测试用定位夹具      申请号：202420079627X     转让价格：面议  收藏
法律状态：已下证   类型：实用新型   关键词：半导体测试   相似专利 发布日：2024/08/15  
摘要： 本实用新型涉及半导体测试技术领域，尤其涉及一种半导体测试用定位夹具。其技术方案包括：操作箱，平台一侧固定连接有伺服电机，滑块顶部固定连接有定位板，支撑板顶部固定连接有电动推杆，支撑板靠近定位板一侧的底部固定连接有夹持结构，立板之间转动安装有转动杆，转动杆外围固定安装有安装架，安装架底部固定连接有照明结构，立板远离安装架的一端固定安装有微型电机。本实用新型通过伺服电机、定位板、电动推杆和夹持结构组合，实现对半导体的夹持固定的功能，提高了夹持的稳定性，通过微型电机、安装架和照明结构组合，满足了半导体检测过程中照明的需求，且方便使用人员根据自身需求调节照明结构的位置。

专利名称：半导体测试管理系统      申请号：2024104124613     转让价格：面议  收藏
法律状态：已下证   类型：发明   关键词：半导体 管理系统 半导体测试   相似专利 发布日：2024/06/04  
摘要： 本发明涉及半导体测试管理技术领域，且公开了一种半导体测试管理系统，包括多维数据模块、测试分析模块和报告管理模块。该半导体测试管理系统通过多维数据模块设置芯片数据单元采集芯片数据集，并通过缺陷检测设备和电性测试设备标记芯片数据集，测试分析模块计算生成量测数据组#imgabs0#、缺陷数据组#imgabs1#、电性数据组#imgabs2#和良品指数#imgabs3#，数字化评估同一批次样本数据中覆膜薄厚质量和结构尺寸，在工艺制作环节把控半导体晶圆表面和电路结构是否出现颗粒污染、表面划伤、开短路等缺陷，及时有效发现低良品率的关键原因，针对新型复杂生产技术时，测试管理灵活适用性高，报告管理模块生成图文报告和折线图传输至中央控制系统，智能自动化集成数据协同效率高。

专利名称：一种半导体测试装置      申请号：2023222008556     转让价格：面议  收藏
法律状态：已下证   类型：实用新型   关键词：半导体 半导体测试   相似专利 发布日：2024/05/07  
摘要： 本实用新型涉及半导体测试技术领域，本实用新型提供了一种半导体测试装置，包括测试台和支架，所述支架整体呈L型，所述支架内侧壁上安装有测试机箱，所述测试机箱的底部位于所述测试台的顶部，所述测试台整体呈圆盘状，且所述测试台顶部均匀设置有多个芯片定位机构，所述支架的下部结构和所述测试台之间安装有换位驱动机构。通过设置的芯片定位机构可实现对不同半导体芯片的定位操作，同时配合多工位的测试台和换位驱动机构，即可增添上下料的人员，来配合测试机箱的快速测试操作，有效提升了整体测试效率。

专利名称：一种用于半导体测试的分选装置      申请号：202321447887X     转让价格：面议  收藏
法律状态：已下证   类型：实用新型   关键词：半导体 分选 分选装置 半导体测试   相似专利 发布日：2023/10/27  
摘要： 本实用新型公开了一种用于半导体测试的分选装置，包括输送机构，所述输送机构上部设置有安装有分选机构；所述分选机构包括检测组件、保护壳和分道组件，所述检测组件上侧安装在保护壳一端内顶壁，所述分道组件安装在保护壳内部远离检测组件一侧，所述保护壳下部安装在输送机构上部。本实用新型所述的一种用于半导体测试的分选装置，通过分流板将保护壳末端分为合格通道与不合格通道，合格的半导体芯片会直接通过合格通道和下料斗掉落到相应的物料箱中，而有不合格的半导体芯片时，舵机会带动挡板转动，通过挡板封闭合格通道，使得半导体芯片通过不合格通道和下料斗掉落到相应的物料箱中，相交人工分选，不易出错，并且分选效率高。

专利名称：一种半导体测试用底座     申请号：2023214387809     转让价格：面议  收藏
法律状态：授权未缴费   类型：实用新型   关键词：半导体 底 半导体测试   相似专利 发布日：2023/10/18  

专利名称：一种半导体测试过程用工夹具      申请号：2019208413072     转让价格：面议  收藏
法律状态：已下证   类型：实用新型   关键词：半导体 过程 半导体测试   相似专利 发布日：2023/05/30  
摘要： 本实用新型属于半导体检测技术领域，具体为一种半导体测试过程用工夹具，包括基座，所述基座的顶部固定连接有对称设置的两个安装板，两个所述安装板内均设有安装腔，所述安装腔内设有螺纹杆，所述螺纹杆的两端均与安装腔的内壁转动连接，所述螺纹杆上固定套接有第一齿轮，所述第一齿轮上设有相啮合的第二齿轮，所述第二齿轮远离第一齿轮的一端固定连接有转杆，所述转杆远离第二齿轮的一端贯穿安装腔的内壁并固定连接有转块，所述转块上滑动插设有卡杆，所述安装板上设有与卡杆对应的多个卡槽。本实用新型结构简单，操作便捷，从而降低了半导体测试时所需要的时间，提高检测效率。

专利名称：一种半导体测试治具      申请号：2022219207009     转让价格：面议  收藏
法律状态：已下证   类型：实用新型   关键词：半导体 测试治具 半导体测试   相似专利 发布日：2023/03/02  
摘要： 本实用新型公开了一种半导体测试治具，涉及半导体制造技术领域，包括冶具座，所述冶具座内部设置有左右两活动座，所述活动座左右滑动于冶具座内部，所述活动座内设置有前后两夹紧块，前后两所述夹紧块之间设置有左右两弹性片。本实用新型设置的半导体测试冶具座结构，在开关盒盖的过程中，能够传动内部活动座结构的活动，在打开过程中，活动座外移，内部前后夹紧块结构露出，方便放置芯片的同时，方便了芯片的取出，在关闭过程中，活动座回复，前后夹紧块配合两侧弹性片结构，对中间芯片进行稳定，保证芯片测试工作的正常进行，前后滑动的夹紧块配合两侧一定弹力的弹性片结构，可对一定范围大小的芯片进行良好的稳定。

专利名称：一种半导体测试设备     申请号：2022207651592     转让价格：面议  收藏
法律状态：授权未缴费   类型：实用新型   关键词：半导体 半导体测试   相似专利 发布日：2022/07/14