本发明公开一种碳化硅晶片抛光加工状态在线监测方法,包括以下步骤:采集碳化硅晶片研磨抛光完整工况的周期振动信号数据,构建碳化硅晶片研磨抛光材料去除特征数据集;建立加工试验工况库,并将振动信号测试值放入匹配的工况库中;对振动信号进行变分模态分解,获取IMF主分量能量谱;构建实际加工特征指数;建立粒子滤波状态估计模型;通过粒子点进行新特征指数构建,并以此迭代实现碳化硅晶片抛光加工状态在线监测。本发明通过对原始振动信号进行变分模态分解,可以有效去除噪声,获得主能量谱,使得后续分析更加准确,抗干扰能力增强。
📄 2022114803378
📂 B24B37_005
👤 浙江工业大学
📅 2022-11-24