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专利名称：一种晶体表面光滑度检测设备及其使用方法申请号：2022111378475 转让价格：面议收藏
法律状态：已下证类型：发明关键词：晶体相似专利发布日：2025/02/05
摘要：本发明涉及晶体检测领域，具体涉及一种晶体表面光滑度检测设备及其使用方法，包括立板，立板的侧面设有滑槽；至少一个设置于滑槽内的滑块、与滑块的前侧面固定连接的光滑度测量仪，滑块与滑槽滑动连接；用于驱动滑块在滑槽中作升降运动的升降部；正对于光滑度测量仪的检测头的夹持部，夹持部用于夹持晶体，且夹持部与滑块一一对应，夹持部包括对称设于滑槽两侧的第一气缸、与第一气缸的伸缩杆固定连接的压板，两个压板相对设置；与第一气缸连接的转动部，滑槽的侧壁设有内侧槽，转动部用于带动第一气缸转动，且转动部设于内侧槽内。通过本发明，在对晶体的光滑度进行检测时，可有效减少人体接触晶体的次数，减小了晶体被损伤的风险。

专利名称：一种晶体裂纹检测装置及其监测方法申请号：2022112454194 转让价格：面议收藏
法律状态：已下证类型：发明关键词：晶体相似专利发布日：2025/01/23
摘要：本发明涉及裂纹检测装置技术领域，具体涉及一种晶体裂纹检测装置及其监测方法，所述检测装置包括支脚，所述支脚上安装有动力机构，动力机构上设有底架，所述底架上安装有第一电磁铁；所述底架经过动力机构调节第一电磁铁的位置，第一电磁铁对晶体表面的铁粉进行吸附；所述主体上表面设有抬升机构，通过设置铁粉配合动力机构以及第一电磁铁，对于晶体待检测面的存在的铁粉进行移动，在多次往复移动后经第一电磁铁带动多余铁粉的排除，由第二电磁铁吸附晶体待检测面残留的铁粉，配合称重器对吸附的残留铁粉进行称重，再对比标准镜面的数据确定晶体裂纹程度。

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