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专利名称：一种点阵测距机构申请号：2020113117127 转让价格：面议收藏
法律状态：授权未缴费类型：发明关键词：打印印刷增材制造相似专利发布日：2025/01/15
摘要：本发明提出了一种点阵测距机构，包括测距台，测距台上设有若干个通孔；若干通孔上均活动设置有用于测距工件上表面的测距模块；若干通孔和测距模块在测距台上呈阵列分布。通过测距模块阵列分布就可以起到对工件上表面进行多点测距操作的作用，对工件的上表面进行多点测距，就能够实现对工件的精准测距的目的。进而实现测距工件上表面的测距目的，提高工件上表面的测距效率，从而有效减少对其他已完成打印工序的工件区域的工艺温度的影响，进而确保了产品质量，准确测量到工件的表面的距离。

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