专利名称：一种集成电路板用可调节高度的测试装置      申请号：2017106914857     转让价格：面议  收藏
法律状态：已下证   类型：发明   关键词：集成电路测试 电子电路测试 集成电路板测试 集成电路板引脚测试 线路板测试 印刷电路板 PCB   相似专利 发布日：2025/08/13  
摘要： 本发明涉及一种测试装置，尤其涉及一种集成电路板用可调节高度的测试装置。本发明要解决的技术问题是提供一种方便调节高度且方便工作人员检测的集成电路板用可调节高度的测试装置。为了解决上述技术问题，本发明提供了这样一种集成电路板用可调节高度的测试装置，包括有支架等；支架的上部连接有导轨，导轨上连接有导套，导轨与导套配合，导套的右端连接有放置机构，支架的下部左侧设有转动机构。本发明通过设置有转动机构，这样就可以调节放置板的高度，通过设置有放置箱等，这样就可以把未测试的和已经测试的集成电路板分开，通过设置有第二滑轨等，这样就可以调整放置集成电路板的数量。

专利名称：基于隐马尔可夫模型的电路测试方法、存储介质及装置      申请号：2020109790203     转让价格：面议  收藏
法律状态：已下证   类型：发明   关键词：集成电路测试   相似专利 发布日：2025/04/07  
摘要： 本发明公开了基于隐马尔可夫模型的电路测试方法、存储介质及装置，所述方法包括：自动测试向量生成工具根据导入的电路结构图随机生成针对该电路的测试向量集；根据随机生成的测试向量集，进行电路测试并基于隐马尔可夫模型判断电路是否温度过高；若电路不存在温度过高问题则直接将测试向量集输入到自动测试设备ATE中，进行电路测试；若电路存在温度过高问题，对测试向量集进行重排序减少测试向量之间的翻转得到更新的测试向量集，将更新的测试向量集输入到自动测试设备ATE中，进行电路测试；本发明的优点在于：有效控制测试温度，降低了损坏芯片的风险，提高了测试的可靠性。

专利名称：一种最小游程切换点标记编码压缩方法及装置      申请号：2019111924824     转让价格：面议  收藏
法律状态：已下证   类型：发明   关键词：集成电路测试   相似专利 发布日：2025/04/07  
摘要： 本发明涉及一种最小游程切换点标记编码压缩方法，包括S1、将测试向量进行均匀划分成若干组区域；S2、将区域中的所有测试向量进行编码压缩，压缩后继续压缩下一组区域中的测试向量，直至全部区域压缩；S3、将该组区域的测试向量压缩后，继续读取下一组区域，重复执行步骤S2；直到最后一个区域压缩完成。本发明还公开了一种最小游程切换点标记编码压缩装置。本发明针对测试向量与测试向量之间游程的关系进行压缩，极大缩短了编码字的数量，有效得提高了压缩率。