集成电路测试类专利转让_商标转让

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专利名称：基于隐马尔可夫模型的电路测试方法、存储介质及装置申请号：2020109790203 转让价格：面议收藏
法律状态：已下证类型：发明关键词：集成电路测试相似专利发布日：2025/04/07
摘要：本发明公开了基于隐马尔可夫模型的电路测试方法、存储介质及装置，所述方法包括：自动测试向量生成工具根据导入的电路结构图随机生成针对该电路的测试向量集；根据随机生成的测试向量集，进行电路测试并基于隐马尔可夫模型判断电路是否温度过高；若电路不存在温度过高问题则直接将测试向量集输入到自动测试设备ATE中，进行电路测试；若电路存在温度过高问题，对测试向量集进行重排序减少测试向量之间的翻转得到更新的测试向量集，将更新的测试向量集输入到自动测试设备ATE中，进行电路测试；本发明的优点在于：有效控制测试温度，降低了损坏芯片的风险，提高了测试的可靠性。

专利名称：一种最小游程切换点标记编码压缩方法及装置申请号：2019111924824 转让价格：面议收藏
法律状态：已下证类型：发明关键词：集成电路测试相似专利发布日：2025/04/07
摘要：本发明涉及一种最小游程切换点标记编码压缩方法，包括S1、将测试向量进行均匀划分成若干组区域；S2、将区域中的所有测试向量进行编码压缩，压缩后继续压缩下一组区域中的测试向量，直至全部区域压缩；S3、将该组区域的测试向量压缩后，继续读取下一组区域，重复执行步骤S2；直到最后一个区域压缩完成。本发明还公开了一种最小游程切换点标记编码压缩装置。本发明针对测试向量与测试向量之间游程的关系进行压缩，极大缩短了编码字的数量，有效得提高了压缩率。

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