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本实用新型公开了一种便于上料的半微量分析天平，包括半微量分析天平，所述半微量分析天平包括测量机构、电源箱体、控制机构，所述测量机构的底部转动连接有调节丝杆，所述电源箱体的侧面固定设有驱动电机，且驱动电机与调节丝杆固定连接，所述调节丝杆的外表面螺纹连接有螺纹套，所述螺纹套的外表面固定设有连接块，所述连接块的另一端固定设有固定滑套，所述测量机构的底部固定设有固定滑杆，且固定滑杆与固定滑套滑动连接。通过该设计，当使用者在对待测原料进行重复不断测量时，避免了手动推动侧面板开闭对待测原料进行放置的问题，进而为使用者上料到测量机构上带来便捷，如此提高了半微量分析天平的实用性。