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本发明涉及芯片检测技术领域，且公开了一种芯片性能检测装置，包括：箱体，所述箱体内设置有传送装置、检测机构以及转移机构，其中；转移机构，包括槽轮、拨盘和驱动电机，所述拨盘底部固接有第一轴，所述第一轴底部与箱体底部通过轴承连接，所述第一轴上固接有从动带轮，所述驱动电机的输出端设置有主动带轮，所述主动带轮和从动带轮之间通过皮带传动连接，所述槽轮中心固接有第二轴，本发明设计有四个工作位，包括夹持工作位、正面检测工作位、反面检测工作位和释放工作位，转移机构通过间歇性旋转将夹爪带动至每个工作位，并实现暂停操作，便于精准检测，多工位设计使装置在同一检测周期内能够高效完成芯片正反面的检测，大幅缩短检测时间。