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摘 要:基于双经纬仪的自准直动态靶标光学装校方法,属于光学检测与装校技术领域,具体涉及一种自准直动态靶标结构及装校方案。本发明解决了现有自准直动态靶标装校难度大的问题。本发明采用双经纬仪实现装校过程,首先采用旋转光轴和测试基准放射镜来确定第一经纬仪的为主和初始位置和姿态,然后第一经纬仪对第一导光镜进行装校,再调整子光路与旋转光轴的相对姿态,最后对第二导光镜的姿态进行装校,完成子光路与导光镜的装校过程。本发明实现了对动态靶标子光路与导向镜光轴同轴性的快速装校,提高了针对动态靶标的装校效率,降低了对操作者的技术要求。本发明适用于自准直动态靶标的制造、调试技术领域中。
著 录 项:
专利/申请号: | CN202210431438.X | 专利名称: | 基于双经纬仪的自准直动态靶标光学装校方法 |
申请日: | 2022-04-23 | 申请/专利权人 | 长春理工大学 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 吉林省长春市卫星路7089号 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G02B7/00搜分类 光学仪器 经纬仪 仪器仪表搜索 |
公开/公告日: | 2023-08-22 | 转让价格: | 面议 |
公开/公告号: | CN114967022B | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
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卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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日期 | 法律信息 | 备注 |