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摘 要:本发明公开了一种薄膜高温光电物性测试装置,其包括温控真空管式炉、样品测试台、温度测量单元、薄膜表面反射光强测量单元、薄膜电阻检测单元和计算机。被测薄膜由温控真空管式炉加热,并立式安置于炉内恒温区内;热电偶置于真空炉内样品附近,实时检测样品温度。激光可从光学窗正入射至炉内的薄膜表面并反射回外部被光电检测模块接收并测量。样品通过测试台上的四金属探针与外部恒流源及纳伏表相连,利用范德堡法由程序自动实现探针快速切换测量并计算薄膜电阻。该系统可以在室温至高温区同步生成薄膜反射光强和电阻随温度变化曲线并计算薄膜的光电相关物性参数,为材料宽温光电物性测量的高可靠性和自动化提供了保证。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201510216869.4 | 专利名称: | 一种薄膜高温光电物性测试装置 |
申请日: | 2015-04-30 | 申请/专利权人 | 华侨大学 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 福建省泉州市丰泽区城东华侨大学 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01N21/55搜分类 塑料搜索 |
公开/公告日: | 2015-09-02 | 转让价格: | 面议 |
公开/公告号: | CN104880436A | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
解除代理委托书(需盖公章)一式两份(如专利通过代理机构申请) | 解除代理委托书(需签字)一式两份(如专利通过代理机构申请) | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
专利请求书或手续合格通知书、授权通知书复印件 | 专利请求书或手续合格通知书、专利授权通知书复印件 | |
专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |
2017/09/05 | 授权 | |
2015/09/30 | 实质审查的生效 | IPC(主分类): G01N 21/55 专利申请号: 201510216869.4 申请日: 2015.04.30 |
2015/09/02 | 公开 |