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摘 要:本发明涉及一种梯度或渐变折射率薄膜的光学常数的测量装置及方法。所述装置包括真空系统、椭偏参数检测系统、膜厚监控系统和离子源,所述真空系统包括真空室和样品台;所述膜厚监控系统包括石英晶振膜厚仪;所述样品台安装在真空室顶部,离子源安装在真空室底部,离子源的离子束输出口正对样品台设置。测量方法是:先测量梯度折射率薄膜样品的初始椭偏参数,用离子束对薄膜进行减薄,再测量减薄后薄膜的椭偏参数,反复进行减薄、测试步骤,直到薄膜减薄到设定步长以下,即可得到最后一薄层的折射率和消光系数,在此基础上可依次得到其上各薄层的光学常数,最终获得薄膜样品沿厚度方向的光学常数分布,实现梯度折射率薄膜光学常数的测量。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201811149497.8 | 专利名称: | 梯度或渐变折射率薄膜的光学常数测量装置及方法 |
申请日: | 2018-09-29 | 申请/专利权人 | 西安工业大学 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 陕西省西安市未央区学府中路2号 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01N21/21搜分类 塑料搜索 |
公开/公告日: | 2023-05-26 | 转让价格: | 面议 |
公开/公告号: | CN109001122B | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
专利请求书或手续合格通知书、授权通知书复印件 | 专利请求书或手续合格通知书、专利授权通知书复印件 | |
专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |
2023/05/26 | 授权 | |
2019/01/08 | 实质审查的生效 | IPC(主分类): G01N 21/21 专利申请号: 201811149497.8 申请日: 2018.09.29 |
2018/12/14 | 公开 |