发明专利已授权

一种X射线线阵探测器校正与滤波方法

📄 申请号：CN201610860202.2 📄 发布日：2025/08/26

著录项目信息

申请日

2016-09-28

申请人

天津工业大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01N23_04

IPC 分类号

G01N23_04

技术画像

所属领域

X射线成像 X射线成像探测器校正技术图像滤波与信号处理

应用场景

医疗影像诊断, 工业无损检测, 安全检查, 材料分析

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摘要

本发明提供了一种X射线线阵探测器校正与滤波的方法。该方法首先使用X射线线阵探测器采集图像数据，然后使用改进的两点校正模型对数据求解补偿增益因子和补偿偏置量因子进行校正。最后运用基于半隐式差分格式的偏微分方程处理算法滤除本底噪声、随机噪声、孤立噪声，解决了X射线图像由于像素响应不均和掺有噪声影响使得图像中含有条纹及细节模糊的问题。与传统方法相比，本发明处理后的数据结果平均均方误差更小，校正与滤波的效果更佳，有利于提高X射线检测质量。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

20200110

✅ 授权

20170606

?? 实质审查的生效：

20170510

📄 公开

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