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摘 要:本发明公开了一种基于新型相关函数约束的CUDA架构并行优化立体变形测量方法,包括:获得多相机间的相对位姿参数关系;基于相机间的联合约束关系建立散斑立体配准的新型相关函数,所述新型相关函数将图像对间立体配准点的搜索限制在对极线附近区域,对不同序列图像中采样散斑点进行时序配准和立体配准;对散斑点的空间坐标进行三维重构。通过多相机间的联合约束关系建立新型相关函数,将图像对间立体配准点的搜索限制在对极线附近区域,而不是整幅图像上,缩小了搜索空间,综合考虑立体视差对散斑立体配准的影响因素以及设计基于所建立的新型相关函数的并行机制优化方案,从算法特性与硬件耦合机理两方面来分别提高立体变形测量的精度和速度。
著 录 项:
专利/申请号: | CN202110733326.5 | 专利名称: | 基于新型相关函数约束的CUDA架构并行优化立体变形测量方法 |
申请日: | 2021-06-29 | 申请/专利权人 | 常熟理工学院 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 江苏省苏州市常熟市南三环路99号 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G06T7/80搜分类 测量测绘 C 港口搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
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卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |