发明专利 已授权

一种基于D-H坐标系的KB镜成像优化方法

📄 申请号:CN202010465623.1 📄 发布日:2026/08/24

著录项目信息

申请日
2020-05-28
申请人
重庆工商大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

所属领域

应用场景

X射线显微成像, 同步辐射实验, 材料表征, 半导体检测

摘要

本发明公开了一种基于D‑H坐标系的KB镜成像优化方法,可以提高KB镜的成像效果。一种基于D‑H坐标系的KB镜成像优化方法,包括:S1、设计KB显微成像系统;S2、KB镜结构仿真;S3、KB镜光学仿真,通过仿真获得光线像差,并分析得到:子午方向的成像质量随着视场角度的变化规律;弧矢方向的成像质量随着视场角度的变化规律;S4、基于步骤S3的仿真结果,通过调整前镜M1、后镜M2的位姿和距离,提高KB镜的成像效果。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

……

……

图1
图2
图3

法律状态时间线

20241122
?? 专利权的转移 :
20210824
✅ 授权
20200821
?? 实质审查的生效 :
20200728
📄 公开

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议价
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📋 交易方式: 委托待转让 📌 交易状态: 在售 👁️ 浏览次数:2 ❤️ 收藏人数:93 📋 项目申报: 未申报

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