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摘 要:本发明公开了眼晶状体剂量测量装置及方法,包括Si‑EJ276探测器和控制模块;Si‑EJ276探测器包括沿辐射粒子入射方向依次设置的Si探测器和EJ276晶体探测器,Si探测器和EJ276晶体探测器耦合,EJ276晶体探测器包括EJ276晶体及硅光电倍增管;控制模块设于Si‑EJ276探测器上,EJ276晶体探测器在不同辐射粒子的情况下输出不同快慢成分的信号波形,控制模块用于对EJ276晶体探测器的输出信号进行脉冲信号处理,区分辐射粒子并获得辐射粒子的能量及通量。本发明采用Si探测器和EJ276晶体探测器耦合形成Si‑EJ276探测器,EJ276晶体的密度较小,EJ276晶体与晶状体的组织等效性好,显著提高了该探测器的测量精度,在实现带电粒子种类甄别及能量测量的同时,可实现传能线密度LET的测量功能,达到复合式测量的目的。
著 录 项:
专利/申请号: | CN202011348473.2 | 专利名称: | 眼晶状体剂量测量装置及方法 |
申请日: | 2020-11-26 | 申请/专利权人 | |
专利类型: | 发明 | 地址: | |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01T1/16搜分类 测量测绘搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
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卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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日期 | 法律信息 | 备注 |