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摘 要:本发明公开一种基于放电的二次电子发射系数测量装置及方法,该装置包括放电箱内设置两个放电腔,分别为上放电腔和下放电腔,上放电腔包括上放电板,上放电板与放电箱上内侧壁构成上放电腔,下放电腔包括下放电板,下放电板与放电箱下内侧壁构成下放电腔;该测量方法利用利用汤生自持放电条件公式结合放电平衡时上下放电板长度求得电子发射系数,装置制作简单,测量方法可肉眼观测,方便检测与验证。
著 录 项:
专利/申请号: | CN202011287205.4 | 专利名称: | 一种基于放电的二次电子发射系数测量装置及方法 |
申请日: | 2020-11-17 | 申请/专利权人 | |
专利类型: | 发明 | 地址: | |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01N27/62搜分类 测量测绘搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 12500.0元 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
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专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |