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摘 要:一种毫米波极化探测辐射计,至少包括有四层结构,从上至下分别为所述覆盖层、第一金属层、介质基板以及第二金属层;其特征在于,所述第一金属层上设置有上排第一极化辐射单元以及下排第二极化辐射单元,所述第一极化辐射单元以及所述第二极化辐射单元呈周期性规则的排列;兼顾了传统线极化以及圆极化在辐射系统中的优势性能,将圆极化和线极化波通过合理设计发挥出最佳性能,创造性的将其设置在同一基片集成波导上,在毫米波波段内形成比较完善的扫测工作性能,并且解决了传统辐射阵列需要的复杂组件和构造,在不影响方向性的情况下能够有效抑制副瓣,牵制副瓣电流,获得良好的应用前景。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201810024595.2 | 专利名称: | 一种毫米波极化探测辐射计 |
申请日: | 2018-01-11 | 申请/专利权人 | |
专利类型: | 发明 | 地址: | |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | H01Q1/38搜分类 其他搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 7000.0元 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |