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摘 要:本发明适用于光学测量技术领域,提供了一种多方位投影的投影仪标定方法,包括:步骤S1,利用投影仪依次在标靶周围预置的N个指定方位投射预置的标定图案到标靶平面,在每个指定方位用相机采集标靶信息图;步骤S2,处理各个指定方位下采集的标靶信息图,计算得到标靶特征点的精确相位值,进而得到投影仪图像坐标系中与所述标靶特征点相对应的亚像素坐标;步骤S3,利用得到投影仪图像坐标系下的亚像素坐标和已知的标靶特征点的三维世界坐标X对所述投影仪进行标定,求得初始标定参数;步骤S4,利用光束平差法对所述初始标定参数和所述三维世界坐标X进行优化,得到最终标定参数。本发明提供的标定方法使最终的标定结果更加精确。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201710310142.1 | 专利名称: | 多方位投影的投影仪标定方法及装置 |
申请日: | 2017-04-28 | 申请/专利权人 | |
专利类型: | 发明 | 地址: | |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01B11/00搜分类 其他搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
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卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |
2018/06/22 | 授权 | |
2017/11/17 | 实质审查的生效 | IPC(主分类): G01B 11/00 专利申请号: 201710310142.1 申请日: 2017.04.28 |
2017/10/20 | 公开 |